北京时代涂层测厚仪时代膜厚计TT230膜厚计TT230涂层测厚仪详细;
北京时代涂层测厚仪时代膜厚计TT230膜厚计TT230涂层测厚仪是一种超小型测量仪,它能快速、无损伤、精密地进行非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量。可广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。
北京时代涂层测厚仪时代膜厚计TT230膜厚计TT230涂层测厚仪体积小、测头与仪器一体化,特别适用于工程现场测量。
北京时代涂层测厚仪时代膜厚计TT230膜厚计TT230涂层测厚仪符合以下标准:
GB/T 4957─1985 非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量 涡流方法
JB/T 8393─1996 磁性和涡流式覆层厚度测量仪
JJG 818─93 《电涡流式测厚仪》
北京时代涂层测厚仪时代膜厚计TT230膜厚计TT230涂层测厚仪功能特点:
z 采用了涡流测厚法,可无损伤地测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度(如铜、铝、锌、锡等基底上的珐琅、橡胶、油漆镀层)
z 可进行零点校准及二点校准,并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正;
z具有两种测量方式:连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE);
z具有两种工作方式:直接方式(DIRECT)和成组方式(Appl)
z具有删除功能:对测量中出现的单个可疑数据进行删除,也可删除存贮区内的所有数据,以便进行新的测量;
设有五个统计量:平均值(MEAN)、最大值(MAX)、最小值(MIN)、
测试次数(NO.)、标准偏差(S.DEV);
z具有米、英制转换功能;
z具有打印功能,可打印测量值、统计值;
z具有欠压指示功能;
z操作过程有蜂鸣声提示;
z具有错误提示功能;
z具有自动关机功能。
北京时代涂层测厚仪时代膜厚计TT230膜厚计TT230涂层测厚仪技术参数:
测头类型 | N | |
测量原理 | 电涡流 | |
测量范围 | 0-1250um/0-40um(铜上镀铬) | |
低限分辨力 | 1µm(10um以下为0.1um) | |
探头连接方式 | 一体化 | |
示值误差 | 一点校准(um) | ±[3%H+1.5] |
两点校准(um) | ±[(1%~3%)H+1.5] | |
测量条件 | 最小曲率半径(mm) | 凸3凹10 |
基体最小面积的直径(mm) | ф5 | |
最小临界厚度(mm) | 0.3 | |
温湿度 | 0~40℃ | |
统计功能 | 平均值(MEAN)、最大值(MAX)、最小值(MIN)、 | |
工作方式 | 直接方式(DIRECT)和成组方式(Appl) | |
测量方式 | 连续测量方式(CONTINUE) 单次测量方式(SINGLE) | |
上下限设置 | 无 | |
存储能力 | 15个测量值 | |
打印/连接计算机 | 可选配打印机/不能连接电脑 | |
关机方式 | 自动 | |
电源 | 二节3.6V镍镉电池 | |
外形尺寸 | 150×55.5×23mm | |
重量 | 150g |
北京时代涂层测厚仪时代膜厚计TT230膜厚计TT230涂层测厚仪基本配置:
主机 标准片一套(50um 100um 200um 500um 1000um) 铝基体 充电器
品牌 | 时代、北京时代 | 型号 | TT230 |
测量范围 | 0-1250um/0-40um(铜上镀铬) | 测定对象 | 非导磁材料表面涂层 |
分辨率 | 1um | 电源 | 9v电池,带充电器 |
尺寸 | 150×55.5×23mm(mm) | 重量 | 0.15(kg) |